Пароль        Регистрация    Напомнить пароль?

новости партнеров

Основы спектрального анализа (2006) PDF, DjVu - купить в электронном или бумажном виде
Основы спектрального анализа (2006) PDF, DjVu

Название: Основы спектрального анализа
Издательство: Горячая линия-Телеком
Автор: Раушер К., Йанссен Ф., Минихольд Р.
ISBN: 5-93517-294-1
Год: 2006
Страниц: 224
Формат: pdf, djvu
14-11-2012, 10:59 | Просмотров: 595 | Комментариев: 0 | Опубликовал: andrey4444          Катерогия:Техника
  • 0
 (голосов: 0)

Похожие книги:
    Оптический атомно-эмиссионныи и рентгенофлуоресцентный методы спектрально ... Оптический атомно-эмиссионныи и рентгенофлуоресцентный методы спектрально ...
    Автор: Ю.М.ПолежаевНазвание: Оптический атомно-эмиссионныи и рентгенофлуоресцентный методы спектрального анализаИздательство: Екатеринбург : УПИГод: 1991Формат: DJVUРазмер: 8 MbВ учебном пособии наложены теоретические основы, характеристики прибо ... Читать

    Методы спектрального анализа Методы спектрального анализа
    Название: Методы спектрального анализаАвтор: Александр Афанасьевич Бабушкин, Павел Алексеевич Бажулин, Федор Андреевич Королев, Леонид Вадимович Левшин, Владимир Константинович Прокофьев, Аркадий Романович СтригановИздательство: МГУГод издания ... Читать

    Панорамные приемники и анализаторы спектра Панорамные приемники и анализаторы спектра
    Название: Панорамные приемники и анализаторы спектраАвтор: В.А. Мартынов, Ю.И. СелиховИздательство: Советское радиоГод: 1980Страниц: 352Формат: djvuРазмер: 4,52 MBРассматриваются основные методы спектрального анализа и принципы построения панорамных ... Читать

    Основы анализа цепей (2007) PDF, DjVu Основы анализа цепей (2007) PDF, DjVu
    Название: Основы анализа цепейИздательство: Горячая линия-Телеком, Радио и связьАвтор: Бакалов В. П., Журавлева О. Б., Крук Б. И.Год: 2007Страниц: 591Формат: pdf, djvuРазмер: 140 МбЯзык: русскийУчебное пособие Основы анализа цепей представляет собой ... Читать

    Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей
    В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализи ... Читать

Информация
Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии в данной новости.

Интересно

Ваши счетчики